From africh@tasc.infm.it Wed Mar 1 19:21:32 2006 Date: Fri, 17 Feb 2006 16:33:03 +0100 (CET) From: Cristina Africh To: Livio.Lanceri@ts.infn.it Cc: Silvio Modesti , Stefan Heun , Vincenzo Grillo Subject: programma corso per dottorato Caro Prof. Lanceri, questo e' il programma di massima del corso per dottorandi "MICROSCOPIE AVANZATE", che sara' diviso in tre parti (docenti S.Heun, V.Grillo, C.Africh) per un totale di 20 ore: A) Microscopia Elettronica: 1. Cenni di ottica elettronica (indice di rifrazione elettronico; lenti; aberrazioni) - 1h 2. Interazioni elettrone-materia (elastic scattering; diffuse scattering; plasmon loss; inner shell excitation) - 1h 3. Schema di funzionamento di SEM, TEM, STEM (emissione - termoionica e FEG; SEM; TEM) - 2h 4. Possibili attachment di un microscopio (EDX; Bright field; Dark field Anular detector; EELS; backscattering e secondary detector) - 1h 5. Esperimenti al SEM - 2h B) Microscopia a raggi x: 1. Introduzione - 1h 2. Scanning x-ray microscopes - 2h 3. Imaging x-ray microscopes - 2h 4. Tour di Elettra, visita alle linee di microscopia - 1h C) Microscopia a scansione: 1. Introduzione e STM (introduzione alle microscopie a scansione; Scanning Tunneling Microscopy - principi di funzionamento; applicazioni dell'STM - topografia, STS, nanomanipolazione) - 3h 2. AFM e altre tecniche SPM (contact e non-contact AFM; applicazioni dell'AFM; altre tecniche SPM) - 2h 3. Pratica sperimentale con l'STM - 2h cordiali saluti, Cristina Africh ********************************************************************** Dr. Cristina Africh Laboratorio TASC INFM-CNR Strada Statale 14 km 163,5 Basovizza I-34012 Trieste ITALY Tel:+39 040 375 6443(office)/6452(lab) Fax:+39 040 226767 **********************************************************************